低阻抗率計 （手提式）

产品型号： MCP-T370

所属分类：阻抗率計

产品时间：2023-10-27

简要描述：低阻抗率計 （手提式）
商品名称： 低阻抗率计 MCP-T370型 （手提式） Loresta-AX 特色： 维持安定之高质量，依据世界之四探针理论之高精度之阻抗率计 操作简单，现场使用携带型方便，用于生产技术、质量管理 测定范围： 10-2～106Ω 资料输出： USB Memory 体积： 约 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g 标准配备 ASP探头 MCP

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低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式)

• 商品名称： 低阻抗率计 MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX 特色： 维持安定之高质量，依据世界之四探针理论之高精度之阻抗率计 操作简单，现场使用携带型方便，用于生产技术、质量管理 测定范围： 10-2～106Ω 资料输出： USB Memory 体积： 约 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g 标准配备 ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》 利用价值广泛标准探头JIS K7194对应， Pin间 5mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm MCP-TA06 充电器 选购品 ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》 不均一样品用 Pin间 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，压力 240g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》 小样品或薄膜用 Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支， 尺寸 Ø 10-20× L112mm QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》 微小样品用 Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支， 尺寸 Ø 10-20× L112mm NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer用 Pin间 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，压力 250g/支 BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》 大样品用 Pin间 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支 TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin间 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，压力 50g/支 AP探头 MCP-TPAP《二探针探头》 标准样式 Pin间 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支 BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》 大样品用 Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支 MCP-TRF1探头检验片 ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定前检查之) MCP-TRPS 探头检验片 PSP探头用 (探头检验片于测定前检查之) MCP-TRTF 探头检验片 TFP, NSCP探头用 (探头检验片于测定前检查之)